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面銅測(cè)厚儀 CMI165 CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)尤為突出、堅(jiān)固耐用的世界帶溫度補(bǔ)償功能的手持式面銅測(cè)厚儀設計標準。 CMI165*的溫度補(bǔ)償功能確保測(cè)量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響標準，儀器配有探針防護(hù)罩參與水平，確保探針的耐用性雙向互動；配備探頭照明方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位。

CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)先進技術；采用微電阻和電渦流方式測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性貢獻力量、高擴(kuò)展性和*統(tǒng)計(jì)功能合作，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。