孔空白區、面銅測厚儀  CMI700系列

CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)貢獻法治；采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度密度增加。具有多功能性、高擴(kuò)展性和*統(tǒng)計(jì)功能相對較高，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析信息化。

700 SERIES主機(jī)參數(shù)：

• 存 儲(chǔ) 量：8000字節(jié)創新內容，非易失性
• 尺    寸：長×寬×高292.1×270×140mm
• 重    量：2.79Kg
• 電    源：AC220V
• 單位轉(zhuǎn)換：通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
• 單    位：可選mils 全方位、μm、μin實踐者、mm管理、in或%為顯示單位
• 接    口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)豐富，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
• 顯    示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏，480(H)×32(V)象素
• 統(tǒng)計(jì)顯示：測量個(gè)數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差善於監督，平均值大局，zui大值，zui小值
• 統(tǒng)計(jì)報(bào)告：需配置串行打印機(jī)或PC電腦下載數據，存儲(chǔ)位置效率和安，測量個(gè)數(shù)，銅箔類型邁出了重要的一步，線形銅線寬產能提升，測量日期/時(shí)間，平均值統籌發展，標(biāo)準(zhǔn)差品質，方差百分比，準(zhǔn)確度慢體驗，zui高值深化涉外，zui低值，值域左右，CPK 值又進了一步，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間戳生產製造，直方圖
• 圖    表：直方圖拓展基地，趨勢圖，X-R 圖

SRP-4面銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%多元化服務體系，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %處理，電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.3 %
• 分辨率：0.1μm≥10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm自然條件，0.01mils≥1 mil擴大公共數據，0.001mils<1mil
• 厚度測量范圍：化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）

電鍍銅：2.5μm–254μm（0.1mil–10mil）

• 線性銅線寬范圍：203μm–7620μm（8mil–300mil
• 工作特點(diǎn)：應(yīng)用*微電阻測試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成體系流動性，AB為正極CD為負(fù)極設計標準；測量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻助力各行，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚經過，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換互動互補，為牛津儀器產(chǎn)品核心技術體系。探頭的照明功能和保護(hù)罩方便測量時(shí)準(zhǔn)確定位。

ETP孔銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%實際需求，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：1.2 mil 時(shí)配套設備，1.0% （典型情況下）
• 分辨率：0.01 mils (0.25 μm)
• 電渦流：遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
• 測量厚度范圍：2--102μm （0.08 -- 4.0 mils）
• 孔zui小直徑：Φ35 mils (Φ899 μm)
• 孔徑范圍：Φ0.899 mm--Φ3.0 mm
• 工作特點(diǎn)：應(yīng)用電渦流測試技術(shù)。測量時(shí)利用探頭釋放出電磁波性能，當(dāng)磁場切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場變化建議，通過計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。測量不受板內(nèi)層影響設計，即使是雙層板或多層板，甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下，同樣能夠良好工作設備製造。另外有效性，探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板資源配置，也能測量孔銅厚度形勢。

    電渦流原理