孔、面銅測(cè)厚儀  CMI700系列

CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)大型；采用微電阻和電渦流方式測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度的可能性。具有多功能性、高擴(kuò)展性和*統(tǒng)計(jì)功能不可缺少，統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析系列。

700 SERIES主機(jī)參數(shù)：

• 存 儲(chǔ) 量：8000字節(jié)充分，非易失性
• 尺    寸：長(zhǎng)×寬×高292.1×270×140mm
• 重    量：2.79Kg
• 電    源：AC220V
• 單位轉(zhuǎn)換：通過(guò)一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
• 單    位：可選mils 過程、μm、μin融合、mm進一步完善、in或%為顯示單位
• 接    口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)提升，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
• 顯    示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏影響，480(H)×32(V)象素
• 統(tǒng)計(jì)顯示：測(cè)量個(gè)數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差競爭力，平均值製高點項目，zui大值，zui小值
• 統(tǒng)計(jì)報(bào)告：需配置串行打印機(jī)或PC電腦下載技術節能，存儲(chǔ)位置提高，測(cè)量個(gè)數(shù)，銅箔類型延伸，線形銅線寬有很大提升空間，測(cè)量日期/時(shí)間，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差認為，方差百分比，準(zhǔn)確度國際要求，zui高值紮實，zui低值，值域新趨勢，CPK 值可能性更大，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間戳新體系，直方圖
• 圖    表：直方圖使命責任，趨勢(shì)圖，X-R 圖

SRP-4面銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%搖籃，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %持續創新，電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.3 %
• 分辨率：0.1μm≥10μm創造，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm分析，0.01mils≥1 mil保供，0.001mils<1mil
• 厚度測(cè)量范圍：化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）

電鍍銅：2.5μm–254μm（0.1mil–10mil）

• 線性銅線寬范圍：203μm–7620μm（8mil–300mil
• 工作特點(diǎn)：應(yīng)用*微電阻測(cè)試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成知識和技能，AB為正極CD為負(fù)極技術創新；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻協同控製，通過(guò)電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚不斷創新，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。耗損的SRP-4探針可自行更換體驗區，為牛津儀器產(chǎn)品去突破。探頭的照明功能和保護(hù)罩方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位。

ETP孔銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%提供了遵循，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：1.2 mil 時(shí)，1.0% （典型情況下）
• 分辨率：0.01 mils (0.25 μm)
• 電渦流：遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
• 測(cè)量厚度范圍：2--102μm （0.08 -- 4.0 mils）
• 孔zui小直徑：Φ35 mils (Φ899 μm)
• 孔徑范圍：Φ0.899 mm--Φ3.0 mm
• 工作特點(diǎn)：應(yīng)用電渦流測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)利用探頭釋放出電磁波利用好，當(dāng)磁場(chǎng)切割金屬層時(shí)會(huì)發(fā)生磁場(chǎng)變化參與水平，通過(guò)計(jì)算此變化量計(jì)算出孔壁銅厚度。測(cè)量不受板內(nèi)層影響有望，即使是雙層板或多層板智能設備，甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下，同樣能夠良好工作服務效率。另外不要畏懼，探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板蓬勃發展，也能測(cè)量孔銅厚度作用。

    電渦流原理