孔提升、面銅測厚儀  CMI700系列

CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計持續；采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*統(tǒng)計功能同時，統(tǒng)計功能用于數(shù)據(jù)整理分析薄弱點。

700 SERIES主機參數(shù)：

• 存 儲 量：8000字節(jié)，非易失性
• 尺    寸：長×寬×高292.1×270×140mm
• 重    量：2.79Kg
• 電    源：AC220V
• 單位轉(zhuǎn)換：通過一個按鍵實現(xiàn)英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
• 單    位：可選mils 自動化、μm設備製造、μin促進進步、mm服務、in或%為顯示單位
• 接    口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)協同控製，用于下載至打印機或計算機
• 顯    示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏不斷創新，480(H)×32(V)象素
• 統(tǒng)計顯示：測量個數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差體驗區，平均值更高效，zui大值，zui小值
• 統(tǒng)計報告：需配置串行打印機或PC電腦下載探索，存儲位置，測量個數(shù)高產，銅箔類型，線形銅線寬快速融入，測量日期/時間帶動產業發展，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差發揮作用，方差百分比，準(zhǔn)確度，zui高值十分落實，zui低值規模，值域，CPK 值作用，單個讀數(shù)，時間戳，直方圖
• 圖    表：直方圖銘記囑托，趨勢圖事關全面，X-R 圖

SRP-4面銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %製造業，電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.3 %
• 分辨率：0.1μm≥10μm發展目標奮鬥，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm狀態，0.01mils≥1 mil規劃，0.001mils<1mil
• 厚度測量范圍：化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm（10μin–500μin）

電鍍銅：2.5μm–254μm（0.1mil–10mil）

• 線性銅線寬范圍：203μm–7620μm（8mil–300mil
• 工作特點：應(yīng)用*微電阻測試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成更多的合作機會，AB為正極CD為負(fù)極勞動精神；測量時，電流由正極到負(fù)極會有微小的電阻方便，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響更好。耗損的SRP-4探針可自行更換基石之一，為牛津儀器產(chǎn)品。探頭的照明功能和保護罩方便測量時準(zhǔn)確定位安全鏈。

ETP孔銅探頭參數(shù)：

• 準(zhǔn)確度：5%行業分類，參考標(biāo)準(zhǔn)片
• 精確度：1.2 mil 時，1.0% （典型情況下）
• 分辨率：0.01 mils (0.25 μm)
• 電渦流：遵守ASTM E37696 標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
• 測量厚度范圍：2--102μm （0.08 -- 4.0 mils）
• 孔zui小直徑：Φ35 mils (Φ899 μm)
• 孔徑范圍：Φ0.899 mm--Φ3.0 mm
• 工作特點：應(yīng)用電渦流測試技術(shù)增持能力。測量時利用探頭釋放出電磁波資料，當(dāng)磁場切割金屬層時會發(fā)生磁場變化，通過計算此變化量計算出孔壁銅厚度重要的意義。測量不受板內(nèi)層影響集成，即使是雙層板或多層板規模最大，甚至在有錫或錫/鉛保護層的情況下，同樣能夠良好工作。另外重要手段，探頭采用溫度補償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板橫向協同，也能測量孔銅厚度不折不扣。

    電渦流原理