當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 日本電子 JEOL > 掃描電子顯微鏡 > JSM-6510JEOL 日本電子 掃描電子顯微鏡 SEM-EDX廠商供應(yīng)
簡(jiǎn)要描述:JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡高效化,與日本電子公司的元素分析儀(EDS)高質量,統(tǒng)合于一體服務為一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制模樣,操作員只用一只鼠標(biāo)技術先進,就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。
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掃描電子顯微鏡 JSM-6510系列
JSM-6510是一款高性能低價(jià)格的掃描電子顯微鏡更加完善,分辨率可達(dá)3.0nm.可按用戶要求定做的操作接口便于用戶直觀操作儀器薄弱點。Smile Shot上高質量?軟件保證得到*電子光學(xué)參數(shù)精準調控。JSM-6510的LGS型大樣品臺(tái)和GS型普通樣品臺(tái)可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。
掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)
1.強(qiáng)大的電子光學(xué)系統(tǒng)建設應用,簡(jiǎn)單操作
I 設(shè)計(jì)的超級(jí)圓錐型物鏡優化程度,保證3nm的分辨率。很容易得到高質(zhì)量照片應用的因素之一。
II 廣域掃描線圈可以得到zui低5倍的放大倍數(shù)從而提高觀察樣品的效率基礎。
III 優(yōu)秀的電子光學(xué)系統(tǒng)可以在大束流下形成小束斑,有利于微區(qū)分析奮勇向前。
2.高分辨率
I JSM6510系列超級(jí)圓錐形物鏡引領作用,在工作距離8mm時(shí)的分辨率為3nm,超級(jí)圓錐形物鏡
2的外形設(shè)計(jì)可以做到短工作距離情況下樣品仍然可以大角度傾斜經驗。
3.全自動(dòng)電子槍
2 I JEOL開(kāi)發(fā)的全自動(dòng)電子槍能夠產(chǎn)生極小電子束源,只要選擇好加速電壓,就可以進(jìn)行觀察或成分分析敢於監督。
II 電子槍偏壓是調(diào)節(jié)電子槍亮度的重要部件對外開放。JEOL的無(wú)縫自給加壓系統(tǒng)能隨著電壓變化隨時(shí)調(diào)整偏壓,使得無(wú)論選擇哪個(gè)加速電壓組建,都能得到*亮度用的舒心。
III JEOL*的像散記憶功能能夠自動(dòng)糾正隨加速電壓或工作距離改變而產(chǎn)生的像散。
1KV 5KV
10KV 20KV
4.多圖顯示模式
3 I 主顯示區(qū)可以同時(shí)顯示兩幅實(shí)時(shí)圖像深入交流研討,分別為二次電子像和背散射電子像模式,參考區(qū)也可顯示2幅實(shí)時(shí)圖像效果較好,例如二次電子圖像,背散射電子圖像或CCD相機(jī)圖像貢獻。
II 雙實(shí)時(shí)顯示模式可以用于不同信號(hào)圖像的對(duì)比設施,用戶可在觀察表面形貌的同時(shí)了解樣品的成份分布情況。
III 選用多種圖像顯示模式時(shí)快速增長,點(diǎn)擊“PHOTO”按紐可同時(shí)獲得并存儲(chǔ)2或3幅全屏尺度圖像要求。
5.簡(jiǎn)單易懂的操作接口及菜單
I 操作接口簡(jiǎn)單,直觀通過活化,默認(rèn)的操作接口顯示了zui常用的功能按鈕適應性強,并以簡(jiǎn)單圖文標(biāo)明,點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可操作所有功能競爭力所在。
II 實(shí)時(shí)量測(cè)能力建設,圖片上的長(zhǎng)度和角度等結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)能在顯示器上進(jìn)行測(cè)量。
6.可變焦聚光鏡修正
I 做表面觀察和元素分析等不同應(yīng)用時(shí)先進的解決方案,選擇合適束流非常重要基礎,一般是通過(guò)聚光鏡與物鏡光闌來(lái)控制電子束流的。如果在調(diào)整束流過(guò)程中研究進展,焦點(diǎn)和觀察區(qū)域位移變化很小要素配置改革,調(diào)整起來(lái)會(huì)比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點(diǎn)溝通機製。
掃描電子顯微鏡小束流中等束流大束流
7.全對(duì)中樣品臺(tái)
I 當(dāng)樣品臺(tái)傾斜時(shí)無障礙,全對(duì)中樣品臺(tái)可使圖像位移和焦點(diǎn)變化zui小。使用此樣品臺(tái)可多方向觀察粗糙表面樣品宣講活動,采用一些不同角度攝取的圖片組成立體圖片高產,可通過(guò)立體圖片觀察深度。
8.低真空SEM
I 低真空掃描電鏡快速融入,除了包括高真空模式外帶動產業發展,還包括低真空模式,在低真空模式下發揮作用,不導(dǎo)電樣品以及容易放氣的樣品都可以直接觀察。結(jié)合JEOL*的冷凍干燥技術(shù),可在低真空模式下快速觀察含水樣品持續發展。
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