EDX-LE能量色散X射線分析是常用的分析手段充分發揮，在電子與物質(zhì)相互作用時(shí)互動互補，采用能聚焦的入射電子可以激發(fā)初級(jí)x射線業務，不同元素發(fā)射出來的特征x射線波長(zhǎng)不同形式，能量也不同。利用x射線能量不同而展譜一般稱為x射線能譜分析或能量色散x射線分析不斷發展，所用設(shè)備通常稱為能量色散譜儀便利性。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析的主要單元是半導(dǎo)體探測(cè)器及多道脈沖高度分析器，用以將特征x射線按能量展i｝｝Er7非常重要，5的分辨率遠(yuǎn)不如波長(zhǎng)色散譜儀實事求是，它有分析速度快的優(yōu)點(diǎn)自動化方案，和通用的x射線波長(zhǎng)色散譜儀相比可提高10倍，如果進(jìn)行物相鑒定結構，只需幾分鐘就可以得到被測(cè)物質(zhì)的全部衍射花樣空間廣闊。

 

　　X射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為常規(guī)、快速的分析手段效果，開始于20世紀(jì)50年代初，經(jīng)歷了50多年的不斷發(fā)展，現(xiàn)在已成為物質(zhì)組成分析的方法之一服務水平。由于波長(zhǎng)色散配備較大功率的X光管線上線下，熒光強(qiáng)度高；因此能力建設，波長(zhǎng)色散儀器占用較短的測(cè)量時(shí)知識和技能，便能達(dá)到較高的測(cè)量精度。

 

　　X射線熒光分析技術(shù)可以分為兩大類型：波長(zhǎng)色散X射線熒光分析（WDXRF）和能量色散X射線熒光分析（EDXRF）醒悟；而能量色散型又根據(jù)探測(cè)器的類型分為（Si－PIN）型和SDD型進行部署。在不同的應(yīng)用條件下，這幾種類型的技術(shù)各有其突出的特點(diǎn)新模式。

 

　　目前重要作用，X射線熒光分析不僅材料科學(xué)、生命科學(xué)應用情況、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速很重要、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。也是X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過程控制分析等方面的儀器之一也逐步提升。同時(shí)利用好，成為地質(zhì)、冶金講理論、建材、石油化工結構不合理、半導(dǎo)體工業(yè)和醫(yī)藥衛(wèi)生等領(lǐng)域的重要分析手段提供深度撮合服務。