EDX-LE能量色散X射線分析波長(zhǎng)法是因其激發(fā)出的熒光足夠強(qiáng)建設，進(jìn)到儀器中用來(lái)分析的光譜是單一元素（“過(guò)濾”了不需測(cè)的元素）資料，不含其它元素的光譜能力和水平，所以測(cè)量數(shù)據(jù)很準(zhǔn)確組織了。這種儀器的靈敏度比能量色散型高一個(gè)數(shù)量級(jí)充足，也就是說(shuō)，所測(cè)的數(shù)據(jù)并不存在“灰色地域”表現，不存在測(cè)定后還需拿到檢測(cè)機(jī)構(gòu)復(fù)檢異常狀況。缺點(diǎn)是，波長(zhǎng)法需將被測(cè)材料粉碎壓制成樣本后測(cè)才準(zhǔn)確的積極性。所以更多可能性，用在材料廠適合。如不制成樣本（非破壞）高效，會(huì)因材料表面形狀不同而產(chǎn)生不同誤差分析。儀器操作也不需要專業(yè)人員。

 

　　兩種類型的EDX-LE能量色散X射線分析都需要用X射線管作為激發(fā)光源質量。燈絲和靶極密封在抽成真空的金屬罩內(nèi)，燈絲和靶極之間加高壓（一般為40KV），燈絲發(fā)射的電子經(jīng)高壓電場(chǎng)加速撞擊在靶極上不久前，產(chǎn)生X射線緊迫性。X射線管產(chǎn)生的一次X射線，作為激發(fā)X射線熒光的輻射源尤為突出。只有當(dāng)一次X射線的波長(zhǎng)稍短于受激元素吸收限lmin時(shí)情況較常見，才能有效的激發(fā)出X射線熒光。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析X射線管的靶材和管工作電壓決定了能有效激發(fā)受激元素的那部分一次X射線的強(qiáng)度標準。管工作電壓升高喜愛，短波長(zhǎng)一次X射線比例增加，故產(chǎn)生的熒光X射線的強(qiáng)度也增強(qiáng)主要抓手。但并不是說(shuō)管工作電壓越高越好保障，因?yàn)槿肷鋁射線的熒光激發(fā)效率與其波長(zhǎng)有關(guān)，越靠近被測(cè)元素吸收限波長(zhǎng)空間載體，激發(fā)效率越高機製。X射線管產(chǎn)生的X射線透過(guò)鈹窗入射到樣品上，激發(fā)出樣品元素的特征X射線大面積，正常工作時(shí)發力，X射線管所消耗功率的0.2%左右轉(zhuǎn)變?yōu)閄射線輻射，其余均變?yōu)闊崮苁筙射線管升溫集成應用，因此必須不斷的通冷卻水冷卻靶電極越來越重要的位置。