ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀宣講活動，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通承Ч?？煞譃閮纱箢惤鉀Q問題，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)服務效率，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀導向作用、探測(cè)器等蓬勃發展，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單重要意義。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線問題，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度效率，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角重要性；n為衍射級(jí)次著力增加。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)系統穩定性，從而獲得待測(cè)元素的特征信息背景下。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量科技實力，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中開展試點，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量可靠保障；k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)規劃。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息具有重要意義。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得講道理。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等高產。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)範圍和領域，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理深入闡釋。
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